根據(jù)最新信息《Journal Of Microelectromechanical Systems》期刊在JCR分區(qū)中的排名如下：
按JCI指標學科分區(qū)在學科為ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，收錄子集：，位于Q2區(qū)，排名152 / 368，百分位58.8INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION，收錄子集：，位于Q2區(qū)，排名29 / 79，百分位63.9NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY，收錄子集：，位于Q3區(qū)，排名91 / 147，百分位38.4PHYSICS, APPLIED，收錄子集：，位于Q2區(qū)，排名75 / 187，百分位60.2ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，收錄子集：，位于Q2區(qū)，排名167 / 368，百分位54.76INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION，收錄子集：，位于Q2區(qū)，排名35 / 79，百分位56.33NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY，收錄子集：，位于Q2區(qū)，排名72 / 147，百分位51.36PHYSICS, APPLIED，收錄子集：，位于Q2區(qū)，排名77 / 187，百分位59.09按JCI指標學科分區(qū)在學科為ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，收錄子集：，位于Q2區(qū)，排名165 / 352，百分位53.3INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION，收錄子集：，位于Q2區(qū)，排名28 / 76，百分位63.8NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY，收錄子集：，位于Q3區(qū)，排名99 / 140，百分位29.6PHYSICS, APPLIED，收錄子集：，位于Q2區(qū)，排名87 / 179，百分位51.7ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，收錄子集：，位于Q2區(qū)，排名168 / 354，百分位52.68INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION，收錄子集：，位于Q2區(qū)，排名37 / 76，百分位51.97NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY，收錄子集：，位于Q3區(qū)，排名73 / 140，百分位48.21PHYSICS, APPLIED，收錄子集：，位于Q2區(qū)，排名83 / 179，百分位53.91。
投稿咨詢| 按JCI指標學科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q2 | 152 / 368 |
58.8 |
| 學科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q2 | 29 / 79 |
63.9 |
| 學科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q3 | 91 / 147 |
38.4 |
| 學科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q2 | 75 / 187 |
60.2 |
| 學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q2 | 167 / 368 |
54.76 |
| 學科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q2 | 35 / 79 |
56.33 |
| 學科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q2 | 72 / 147 |
51.36 |
| 學科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q2 | 77 / 187 |
59.09 |
| 按JCI指標學科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q2 | 165 / 352 |
53.3 |
| 學科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q2 | 28 / 76 |
63.8 |
| 學科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q3 | 99 / 140 |
29.6 |
| 學科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q2 | 87 / 179 |
51.7 |
| 學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q2 | 168 / 354 |
52.68 |
| 學科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q2 | 37 / 76 |
51.97 |
| 學科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q3 | 73 / 140 |
48.21 |
| 學科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q2 | 83 / 179 |
53.91 |
這表明該刊在工程：電子與電氣領域具有較高的學術(shù)影響力和認可度。此外，該刊創(chuàng)刊時間：1992年，影響因子：3.1，出版周期：Bimonthly、出版商：Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.以及收錄情況等信息也為其學術(shù)影響力提供了有力支持。
影響因子：是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項數(shù)據(jù)，現(xiàn)已成為國際上通用的期刊評價指標，不僅是一種測度期刊有用性和顯示度的指標，而且也是測度期刊的學術(shù)水平，乃至論文質(zhì)量的重要指標。
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