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雜志簡(jiǎn)介中科院分區(qū) JCR分區(qū) CiteScore 發(fā)文統(tǒng)計(jì) 通訊方式相關(guān)雜志期刊導(dǎo)航

Journal Of Microelectromechanical Systems 雜志簡(jiǎn)介

《Journal Of Microelectromechanical Systems》重點(diǎn)專注發(fā)布工程技術(shù)-工程：電子與電氣領(lǐng)域的新研究，旨在促進(jìn)和傳播該領(lǐng)域相關(guān)的新技術(shù)和新知識(shí)。鼓勵(lì)該領(lǐng)域研究者詳細(xì)地發(fā)表他們的高質(zhì)量實(shí)驗(yàn)研究和理論結(jié)果。該雜志創(chuàng)刊至今，在工程技術(shù)-工程：電子與電氣領(lǐng)域，有較高影響力，對(duì)來稿文章質(zhì)量要求較高，稿件投稿過審難度較大。歡迎廣大同領(lǐng)域研究者投稿該雜志。

Journal Of Microelectromechanical Systems 雜志中科院分區(qū)

中科院SCI分區(qū)數(shù)據(jù)

中科院SCI期刊分區(qū)（2026年3月發(fā)布）

大類學(xué)科	分區(qū)	小類學(xué)科	分區(qū)	Top期刊	綜述期刊
工程技術(shù)	3區(qū)	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用	3區(qū) 4區(qū) 3區(qū) 3區(qū)	是	是

中科院SCI期刊分區(qū)（2025年3月升級(jí)版）

大類學(xué)科	分區(qū)	小類學(xué)科	分區(qū)	Top期刊	綜述期刊
工程技術(shù)	3區(qū)	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技 PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用	3區(qū) 3區(qū) 3區(qū) 3區(qū)	是	是

中科院SCI期刊分區(qū)（2023年12月升級(jí)版）

大類學(xué)科	分區(qū)	小類學(xué)科	分區(qū)	Top期刊	綜述期刊
工程技術(shù)	3區(qū)	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技	3區(qū) 3區(qū) 3區(qū) 4區(qū)	否	否

中科院SCI期刊分區(qū)（2022年12月升級(jí)版）

大類學(xué)科	分區(qū)	小類學(xué)科	分區(qū)	Top期刊	綜述期刊
工程技術(shù)	3區(qū)	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技	3區(qū) 3區(qū) 3區(qū) 4區(qū)	否	否

中科院SCI期刊分區(qū)（2021年12月升級(jí)版）

大類學(xué)科	分區(qū)	小類學(xué)科	分區(qū)	Top期刊	綜述期刊
工程技術(shù)	3區(qū)	INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技 PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用	2區(qū) 3區(qū) 3區(qū) 3區(qū)	是	是

中科院SCI期刊分區(qū)（2021年12月基礎(chǔ)版）

大類學(xué)科	分區(qū)	小類學(xué)科	分區(qū)	Top期刊	綜述期刊
工程技術(shù)	3區(qū)	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技 PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用	4區(qū) 3區(qū) 4區(qū) 4區(qū)	是	是

中科院SCI期刊分區(qū)（2020年12月升級(jí)版）

大類學(xué)科	分區(qū)	小類學(xué)科	分區(qū)	Top期刊	綜述期刊
工程技術(shù)	3區(qū)	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技 PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用	3區(qū) 3區(qū) 3區(qū) 3區(qū)	是	是

中科院分區(qū)趨勢(shì)圖

影響因子趨勢(shì)圖

中科院JCR分區(qū)：中科院JCR期刊分區(qū)（又稱分區(qū)表、分區(qū)數(shù)據(jù)）是中國(guó)科學(xué)院文獻(xiàn)情報(bào)中心世界科學(xué)前沿分析中心的科學(xué)研究成果，是衡量學(xué)術(shù)期刊影響力的一個(gè)重要指標(biāo)，一般而言，發(fā)表在1區(qū)和2區(qū)的SCI論文，通常被認(rèn)為是該學(xué)科領(lǐng)域的比較重要的成果。

影響因子：是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報(bào)告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項(xiàng)數(shù)據(jù)，現(xiàn)已成為國(guó)際上通用的期刊評(píng)價(jià)指標(biāo)，不僅是一種測(cè)度期刊有用性和顯示度的指標(biāo)，而且也是測(cè)度期刊的學(xué)術(shù)水平，乃至論文質(zhì)量的重要指標(biāo)。

Journal Of Microelectromechanical Systems 雜志JCR分區(qū)

Web of Science 數(shù)據(jù)庫

按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū)	收錄子集	分區(qū)	排名	百分位
學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC	SCIE	Q2	152 / 368	58.8
學(xué)科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION	SCIE	Q2	29 / 79	63.9
學(xué)科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY	SCIE	Q3	91 / 147	38.4
學(xué)科：PHYSICS, APPLIED	SCIE	Q2	75 / 187	60.2
學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC	SCIE	Q2	167 / 368	54.76
學(xué)科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION	SCIE	Q2	35 / 79	56.33
學(xué)科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY	SCIE	Q2	72 / 147	51.36
學(xué)科：PHYSICS, APPLIED	SCIE	Q2	77 / 187	59.09

按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū)	收錄子集	分區(qū)	排名	百分位
學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC	SCIE	Q2	165 / 352	53.3
學(xué)科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION	SCIE	Q2	28 / 76	63.8
學(xué)科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY	SCIE	Q3	99 / 140	29.6
學(xué)科：PHYSICS, APPLIED	SCIE	Q2	87 / 179	51.7
學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC	SCIE	Q2	168 / 354	52.68
學(xué)科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION	SCIE	Q2	37 / 76	51.97
學(xué)科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY	SCIE	Q3	73 / 140	48.21
學(xué)科：PHYSICS, APPLIED	SCIE	Q2	83 / 179	53.91

Journal Of Microelectromechanical Systems CiteScore 評(píng)價(jià)數(shù)據(jù)

CiteScore：6.3
SJR：0.724
SNIP：1.256

CiteScore 排名

學(xué)科類別	分區(qū)	排名	百分位
大類：Engineering 小類：Mechanical Engineering	Q1	156 / 740	78%
大類：Engineering 小類：Electrical and Electronic Engineering	Q1	245 / 1030	76%

CiteScore趨勢(shì)圖

年發(fā)文量趨勢(shì)圖

CiteScore：是由Elsevier2016年發(fā)布的一個(gè)評(píng)價(jià)學(xué)術(shù)期刊質(zhì)量的指標(biāo)，該指標(biāo)是指期刊發(fā)表的單篇文章平均被引用次數(shù)。CiteScore和影響因子的作用是一樣的，都是可以體現(xiàn)期刊質(zhì)量的重要指標(biāo)，給選刊的作者了解期刊水平提供幫助。

Journal Of Microelectromechanical Systems 雜志發(fā)文統(tǒng)計(jì)

文章名稱引用次數(shù)
Accurate Extraction of Large Electromechanical Coupling in Piezoelectric MEMS Resonators15
X-Cut Lithium Niobate Laterally Vibrating MEMS Resonator With Figure of Merit of 15609
Fused Silica Micro Shell Resonator With T-Shape Masses for Gyroscopic Application8
The Multi-Mode Resonance in AlN Lamb Wave Resonators7
Highly Sensitive and Flexible Tactile Sensor Based on Porous Graphene Sponges for Distributed Tactile Sensing in Monitoring Human Motions7
A Closed-Loop Mode-Localized Accelerometer6
Parylene-Based Cuff Electrode With Integrated Microfluidics for Peripheral Nerve Recording, Stimulation, and Drug Delivery6
Capacitive MEMS Accelerometer With Perforated and Electrically Separated Mass Structure for Low Noise and Low Power6
Quality Factor Improvement in the Disk Resonator Gyroscope by Optimizing the Spoke Length Distribution6
On Cavitation on Chip in Microfluidic Devices With Surface and Sidewall Roughness Elements5
國(guó)家/地區(qū)發(fā)文量
USA227
CHINA MAINLAND82
Canada28
GERMANY (FED REP GER)24
India18
Japan18
Italy15
South Korea13
Taiwan13
Saudi Arabia11
機(jī)構(gòu)發(fā)文發(fā)文量
UNIVERSITY OF CALIFORNIA SYSTEM23
STATE UNIVERSITY SYSTEM OF FLORIDA19
STANFORD UNIVERSITY17
CARNEGIE MELLON UNIVERSITY14
SOUTHEAST UNIVERSITY - CHINA14
UNIVERSITY OF ILLINOIS SYSTEM14
CHINESE ACADEMY OF SCIENCES12
UNIVERSITY SYSTEM OF MARYLAND12
UNIVERSITY OF MICHIGAN SYSTEM10
UNIVERSITY OF TEXAS SYSTEM10

Journal Of Microelectromechanical Systems 雜志社通訊方式

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