根據(jù)最新信息《Microelectronics Journal》期刊在JCR分區(qū)中的排名如下：
按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū)在學(xué)科為ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，收錄子集：，位于Q3區(qū)，排名198 / 368，百分位46.3NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY，收錄子集：，位于Q4區(qū)，排名114 / 147，百分位22.8ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，收錄子集：，位于Q3區(qū)，排名237 / 368，百分位35.73NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY，收錄子集：，位于Q3區(qū)，排名98 / 147，百分位33.67按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū)在學(xué)科為ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，收錄子集：，位于Q3區(qū)，排名211 / 352，百分位40.2NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY，收錄子集：，位于Q4區(qū)，排名110 / 140，百分位21.8ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，收錄子集：，位于Q3區(qū)，排名238 / 354，百分位32.91NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY，收錄子集：，位于Q3區(qū)，排名94 / 140，百分位33.21。
投稿咨詢| 按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 198 / 368 |
46.3 |
| 學(xué)科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q4 | 114 / 147 |
22.8 |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 237 / 368 |
35.73 |
| 學(xué)科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q3 | 98 / 147 |
33.67 |
| 按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 211 / 352 |
40.2 |
| 學(xué)科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q4 | 110 / 140 |
21.8 |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 238 / 354 |
32.91 |
| 學(xué)科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q3 | 94 / 140 |
33.21 |
這表明該刊在工程：電子與電氣領(lǐng)域具有較高的學(xué)術(shù)影響力和認(rèn)可度。此外，該刊創(chuàng)刊時(shí)間：1967年，影響因子：2.3，出版周期：Monthly、出版商：Elsevier以及收錄情況等信息也為其學(xué)術(shù)影響力提供了有力支持。
影響因子：是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報(bào)告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項(xiàng)數(shù)據(jù)，現(xiàn)已成為國際上通用的期刊評(píng)價(jià)指標(biāo)，不僅是一種測(cè)度期刊有用性和顯示度的指標(biāo)，而且也是測(cè)度期刊的學(xué)術(shù)水平，乃至論文質(zhì)量的重要指標(biāo)。
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