《Microelectronics Journal》雜志的影響因子為2.3。
影響因子：是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報(bào)告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項(xiàng)數(shù)據(jù)，現(xiàn)已成為國際上通用的期刊評價(jià)指標(biāo)，不僅是一種測度期刊有用性和顯示度的指標(biāo)，而且也是測度期刊的學(xué)術(shù)水平，乃至論文質(zhì)量的重要指標(biāo)。
以下是如何查看影響因子的幾種方法：
一、通過專業(yè)數(shù)據(jù)庫查詢
1. 通過Web of Science數(shù)據(jù)庫查詢：Web of Science是一個(gè)權(quán)威的學(xué)術(shù)數(shù)據(jù)庫，提供期刊影響因子的官方數(shù)據(jù)。
2.中國知網(wǎng)（CNKI）：在CNKI中，用戶可以通過期刊導(dǎo)航功能搜索目標(biāo)期刊，并在期刊詳情頁面查看其影響因子。
3.使用JCR：JCR是專門提供期刊引證報(bào)告的工具，隸屬于Web of Science。
二、查閱學(xué)術(shù)期刊官方網(wǎng)站
許多學(xué)術(shù)期刊會(huì)在其官方網(wǎng)站上公布最新的影響因子數(shù)據(jù)。
三、參考學(xué)術(shù)權(quán)威指南和排名
影響因子是一個(gè)動(dòng)態(tài)變化的指標(biāo)，會(huì)隨著時(shí)間的推移而發(fā)生變化。因此，在查看影響因子時(shí)，需要關(guān)注其發(fā)布的時(shí)間點(diǎn)。
《Microelectronics Journal》雜志創(chuàng)刊于1967年，由Elsevier出版商出版，出版周期為Monthly，國際簡稱為MICROELECTRON J，中文名稱微電子雜志。該雜志旨在及時(shí)、準(zhǔn)確、全面地報(bào)道國內(nèi)外工程技術(shù)-工程：電子與電氣領(lǐng)域取得的最新研究成果、工作進(jìn)展及學(xué)術(shù)動(dòng)態(tài)、技術(shù)革新等，促進(jìn)學(xué)術(shù)交流，鼓勵(lì)學(xué)術(shù)創(chuàng)新。
《Microelectronics Journal》雜志分區(qū)情況
中科院分區(qū)：在中科院最新升級版分區(qū)表中，大類學(xué)科工程技術(shù)位于3區(qū)，小類學(xué)科ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：電子與電氣位于3區(qū)。
JCR分區(qū)：根據(jù)最新JCR分區(qū)， 按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū)中學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，位于Q3區(qū)，排名198 / 368，百分位46.3。NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY，位于Q4區(qū)，排名114 / 147，百分位22.8。ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，位于Q3區(qū)，排名237 / 368，百分位35.73。NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY，位于Q3區(qū)，排名98 / 147，百分位33.67。 按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū)中學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，位于Q3區(qū)，排名211 / 352，百分位40.2。NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY，位于Q4區(qū)，排名110 / 140，百分位21.8。ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，位于Q3區(qū)，排名238 / 354，百分位32.91。NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY，位于Q3區(qū)，排名94 / 140，百分位33.21。
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| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 198 / 368 |
46.3 |
| 學(xué)科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q4 | 114 / 147 |
22.8 |
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35.73 |
| 學(xué)科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q3 | 98 / 147 |
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32.91 |
| 學(xué)科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q3 | 94 / 140 |
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《Microelectronics Journal》雜志評價(jià)數(shù)據(jù)
影響因子：2.3
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