《Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement》雜志的出版周期為Bimonthly。
該刊自1952創(chuàng)刊以來，一直由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版社出版發(fā)行。它專注于工程技術(shù)-工程：電子與電氣領域，致力于發(fā)布該領域的前沿研究成果，推動相關(guān)新技術(shù)和新知識的傳播。
平均審稿周期為約6.8個月。自創(chuàng)刊以來，它在工程技術(shù)-工程：電子與電氣領域一直具有很高的影響力，對投稿文章的質(zhì)量把控非常嚴格。
《Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement》雜志通訊方式為：IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141。詳細征稿細則請查閱雜志社征稿要求。本站可提供SCI投稿輔導服務，SCI檢索，確保稿件信息安全保密，合乎學術(shù)規(guī)范，詳情請咨詢客服。
該刊影響因子為5.9，被收錄于國際知名權(quán)威數(shù)據(jù)庫SCI、SCIE。
投稿咨詢影響因子：是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項數(shù)據(jù)，現(xiàn)已成為國際上通用的期刊評價指標，不僅是一種測度期刊有用性和顯示度的指標，而且也是測度期刊的學術(shù)水平，乃至論文質(zhì)量的重要指標。
中科院分區(qū)大類學科：工程技術(shù)2區(qū)。
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| 工程技術(shù) | 2區(qū) | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 | 2區(qū) 2區(qū) | 是 | 否 |
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中科院JCR分區(qū)：中科院JCR期刊分區(qū)（又稱分區(qū)表、分區(qū)數(shù)據(jù)）是中國科學院文獻情報中心世界科學前沿分析中心的科學研究成果，是衡量學術(shù)期刊影響力的一個重要指標，一般而言，發(fā)表在1區(qū)和2區(qū)的SCI論文，通常被認為是該學科領域的比較重要的成果。
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