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Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement
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Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement

儀器儀表和測量的IEEE Transactions雜志

中科院分區(qū):2區(qū) JCR分區(qū):Q1 預計審稿周期:約6.8個月

《Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement》是一本由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版商出版的工程技術國際刊物,國際簡稱為IEEE T INSTRUM MEAS,中文名稱儀器儀表和測量的IEEE Transactions。該刊創(chuàng)刊于1952年,出版周期為Bimonthly。 《Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement》2024年影響因子為5.9,被收錄于國際知名權威數(shù)據(jù)庫SCI、SCIE。

ISSN:0018-9456
研究方向:工程技術-工程:電子與電氣
是否預警:是
E-ISSN:1557-9662
出版地區(qū):UNITED STATES
Gold OA文章占比:6.42%
語言:English
是否OA:混合
OA被引用占比:
出版商:Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
出版周期:Bimonthly
影響因子:5.9
創(chuàng)刊時間:1952
年發(fā)文量:2532
雜志簡介 中科院分區(qū) JCR分區(qū) CiteScore 發(fā)文統(tǒng)計 通訊方式 相關雜志 期刊導航

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement 雜志簡介

《Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement》重點專注發(fā)布工程技術-工程:電子與電氣領域的新研究,旨在促進和傳播該領域相關的新技術和新知識。鼓勵該領域研究者詳細地發(fā)表他們的高質量實驗研究和理論結果。根據(jù)網(wǎng)友分享的投稿經(jīng)驗,平均審稿速度為約6.8個月。該雜志創(chuàng)刊至今,在工程技術-工程:電子與電氣領域,影響力非凡,對來稿文章質量要求很高,稿件投稿過審難度很大,刊登文章的學術水平和編輯質量在同類雜志中均名列前茅。如果你想在該雜志上發(fā)表論文,你可以向編輯部提交文章,但文章必須具有重要意義并代表該領域專業(yè)的發(fā)展。我們歡迎廣大同領域的研究者提交投稿。

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement 雜志中科院分區(qū)

中科院SCI分區(qū)數(shù)據(jù)
中科院SCI期刊分區(qū)(2026年3月發(fā)布)
大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術 2區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 2區(qū) 2區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2025年3月升級版)
大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術 2區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 2區(qū) 2區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2023年12月升級版)
大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術 2區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 2區(qū) 2區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2022年12月升級版)
大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術 2區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 2區(qū) 2區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2021年12月升級版)
大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術 2區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 2區(qū) 2區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2021年12月基礎版)
大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術 3區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 3區(qū) 2區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2020年12月升級版)
大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術 2區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 2區(qū) 2區(qū)
中科院分區(qū)趨勢圖
影響因子趨勢圖

中科院JCR分區(qū):中科院JCR期刊分區(qū)(又稱分區(qū)表、分區(qū)數(shù)據(jù))是中國科學院文獻情報中心世界科學前沿分析中心的科學研究成果,是衡量學術期刊影響力的一個重要指標,一般而言,發(fā)表在1區(qū)和2區(qū)的SCI論文,通常被認為是該學科領域的比較重要的成果。

影響因子:是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項數(shù)據(jù),現(xiàn)已成為國際上通用的期刊評價指標,不僅是一種測度期刊有用性和顯示度的指標,而且也是測度期刊的學術水平,乃至論文質量的重要指標。

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement 雜志JCR分區(qū)

Web of Science 數(shù)據(jù)庫
按JCI指標學科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q1 54 / 368

85.5

學科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q1 7 / 79

91.8

學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q1 53 / 368

85.73

學科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q1 8 / 79

90.51

按JCI指標學科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q1 53 / 352

85.1

學科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q1 9 / 76

88.8

學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q1 52 / 354

85.45

學科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q1 7 / 76

91.45

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement CiteScore 評價數(shù)據(jù)

  • CiteScore:9.8
  • SJR:1.527
  • SNIP:1.961

CiteScore 排名

學科類別 分區(qū) 排名 百分位
大類:Physics and Astronomy 小類:Instrumentation Q1 15 / 206

92%

大類:Physics and Astronomy 小類:Electrical and Electronic Engineering Q1 116 / 1030

88%

CiteScore趨勢圖
年發(fā)文量趨勢圖

CiteScore:是由Elsevier2016年發(fā)布的一個評價學術期刊質量的指標,該指標是指期刊發(fā)表的單篇文章平均被引用次數(shù)。CiteScore和影響因子的作用是一樣的,都是可以體現(xiàn)期刊質量的重要指標,給選刊的作者了解期刊水平提供幫助。

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement 雜志發(fā)文統(tǒng)計

文章名稱引用次數(shù)

  • Medical Image Fusion With Parameter-Adaptive Pulse Coupled Neural Network in Nonsubsampled Shearlet Transform Domain43
  • Deep Architecture for High-Speed Railway Insulator Surface Defect Detection: Denoising Autoencoder With Multitask Learning26
  • An Unsupervised-Learning-Based Approach for Automated Defect Inspection on Textured Surfaces21
  • Temperature Prediction Model for Roller Kiln by ALD-Based Double Locally Weighted Kernel Principal Component Regression20
  • Automated Identification of Myocardial Infarction Using Harmonic Phase Distribution Pattern of ECG Data19
  • Analysis of Permanent Magnet Synchronous Motor Fault Diagnosis Based on Learning18
  • Wearable Device-Based System to Monitor a Driver's Stress, Fatigue, and Drowsiness17
  • A New Vibration Testing Platform for Electronic Current Transformers16
  • Ensemble SVM Method for Automatic Sleep Stage Classification14
  • An Accurate Visible Light Positioning System Using Regenerated Fingerprint Database Based on Calibrated Propagation Model13

國家/地區(qū)發(fā)文量

  • CHINA MAINLAND696
  • Italy237
  • USA215
  • India144
  • England101
  • Canada92
  • GERMANY (FED REP GER)70
  • Spain53
  • South Korea47
  • Brazil38

機構發(fā)文發(fā)文量

  • INDIAN INSTITUTE OF TECHNOLOGY SYSTEM (IIT SYSTEM)85
  • CHINESE ACADEMY OF SCIENCES50
  • XI'AN JIAOTONG UNIVERSITY44
  • TSINGHUA UNIVERSITY42
  • TIANJIN UNIVERSITY40
  • BEIHANG UNIVERSITY39
  • UNIVERSITY OF MISSOURI SYSTEM33
  • HARBIN INSTITUTE OF TECHNOLOGY30
  • SHANGHAI JIAO TONG UNIVERSITY28
  • SOUTHWEST JIAOTONG UNIVERSITY28

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement 雜志社通訊方式

《Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement》雜志通訊方式為:IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141。詳細征稿細則請查閱雜志社征稿要求。本站可提供SCI投稿輔導服務,SCI檢索,確保稿件信息安全保密,合乎學術規(guī)范,詳情請咨詢客服。

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免責聲明

若用戶需要出版服務,請聯(lián)系出版商:IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141。

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