根據(jù)最新信息《Quantitative Infrared Thermography Journal》期刊在JCR分區(qū)中的排名如下：
按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū)學(xué)科為INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION，收錄子集：SCIE，位于Q1區(qū)，排名17 / 76，百分位78.3%；MATERIALS SCIENCE, CHARACTERIZATION & TESTING，收錄子集：SCIE，位于Q1區(qū)，排名6 / 38，百分位85.5%；PHYSICS, APPLIED，收錄子集：SCIE，位于Q2區(qū)，排名56 / 179，百分位69%；按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū)在學(xué)科為INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION，收錄子集：SCIE，位于Q1區(qū)，排名18 / 76，百分位76.97%MATERIALS SCIENCE, CHARACTERIZATION & TESTING，收錄子集：SCIE，位于Q1區(qū)，排名7 / 38，百分位82.89%PHYSICS, APPLIED，收錄子集：SCIE，位于Q2區(qū)，排名45 / 179，百分位75.14%。
投稿咨詢| 按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q1 | 17 / 76 |
78.3% |
| 學(xué)科：MATERIALS SCIENCE, CHARACTERIZATION & TESTING | SCIE | Q1 | 6 / 38 |
85.5% |
| 學(xué)科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q2 | 56 / 179 |
69% |
| 按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q1 | 18 / 76 |
76.97% |
| 學(xué)科：MATERIALS SCIENCE, CHARACTERIZATION & TESTING | SCIE | Q1 | 7 / 38 |
82.89% |
| 學(xué)科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q2 | 45 / 179 |
75.14% |
這表明該刊在材料科學(xué)：表征與測試領(lǐng)域具有較高的學(xué)術(shù)影響力和認可度。此外，該刊創(chuàng)刊時間：2004年，影響因子：3.7，出版周期：Semiannual、出版商：Taylor and Francis Ltd.以及收錄情況等信息也為其學(xué)術(shù)影響力提供了有力支持。
影響因子：是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項數(shù)據(jù)，現(xiàn)已成為國際上通用的期刊評價指標(biāo)，不僅是一種測度期刊有用性和顯示度的指標(biāo)，而且也是測度期刊的學(xué)術(shù)水平，乃至論文質(zhì)量的重要指標(biāo)。
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