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Iet Science Measurement & Technology
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Iet Science Measurement & Technology

工業(yè)科學(xué)測(cè)量與技術(shù)雜志

中科院分區(qū):4區(qū) JCR分區(qū):Q3 預(yù)計(jì)審稿周期: 較慢,6-12周

《Iet Science Measurement & Technology》是一本由Wiley出版商出版的工程技術(shù)國(guó)際刊物,國(guó)際簡(jiǎn)稱(chēng)為IET SCI MEAS TECHNOL,中文名稱(chēng)工業(yè)科學(xué)測(cè)量與技術(shù)。該刊創(chuàng)刊于2007年,出版周期為Monthly。 《Iet Science Measurement & Technology》2023年影響因子為1.4,被收錄于國(guó)際知名權(quán)威數(shù)據(jù)庫(kù)SCIE。

ISSN:1751-8822
研究方向:工程技術(shù)-工程:電子與電氣
是否預(yù)警:否
E-ISSN:1751-8830
出版地區(qū):ENGLAND
Gold OA文章占比:68.46%
語(yǔ)言:English
是否OA:開(kāi)放
OA被引用占比:0
出版商:Wiley
出版周期:Monthly
影響因子:1.4
創(chuàng)刊時(shí)間:2007
年發(fā)文量:32
雜志簡(jiǎn)介 中科院分區(qū) JCR分區(qū) CiteScore 發(fā)文統(tǒng)計(jì) 通訊方式 相關(guān)雜志 期刊導(dǎo)航

Iet Science Measurement & Technology 雜志簡(jiǎn)介

《Iet Science Measurement & Technology》重點(diǎn)專(zhuān)注發(fā)布工程技術(shù)-工程:電子與電氣領(lǐng)域的新研究,旨在促進(jìn)和傳播該領(lǐng)域相關(guān)的新技術(shù)和新知識(shí)。鼓勵(lì)該領(lǐng)域研究者詳細(xì)地發(fā)表他們的高質(zhì)量實(shí)驗(yàn)研究和理論結(jié)果。該雜志創(chuàng)刊至今,在工程技術(shù)-工程:電子與電氣領(lǐng)域,有較高影響力,對(duì)來(lái)稿文章質(zhì)量要求較高,稿件投稿過(guò)審難度較大。歡迎廣大同領(lǐng)域研究者投稿該雜志。

Iet Science Measurement & Technology 雜志中科院分區(qū)

中科院SCI分區(qū)數(shù)據(jù)
中科院SCI期刊分區(qū)(2023年12月升級(jí)版)
大類(lèi)學(xué)科 分區(qū) 小類(lèi)學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 4區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2022年12月升級(jí)版)
大類(lèi)學(xué)科 分區(qū) 小類(lèi)學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 4區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2021年12月舊的升級(jí)版)
大類(lèi)學(xué)科 分區(qū) 小類(lèi)學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 4區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2021年12月基礎(chǔ)版)
大類(lèi)學(xué)科 分區(qū) 小類(lèi)學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 4區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2021年12月升級(jí)版)
大類(lèi)學(xué)科 分區(qū) 小類(lèi)學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 4區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2020年12月舊的升級(jí)版)
大類(lèi)學(xué)科 分區(qū) 小類(lèi)學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 3區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 3區(qū)
中科院分區(qū)趨勢(shì)圖
影響因子趨勢(shì)圖

中科院JCR分區(qū):中科院JCR期刊分區(qū)(又稱(chēng)分區(qū)表、分區(qū)數(shù)據(jù))是中國(guó)科學(xué)院文獻(xiàn)情報(bào)中心世界科學(xué)前沿分析中心的科學(xué)研究成果,是衡量學(xué)術(shù)期刊影響力的一個(gè)重要指標(biāo),一般而言,發(fā)表在1區(qū)和2區(qū)的SCI論文,通常被認(rèn)為是該學(xué)科領(lǐng)域的比較重要的成果。

影響因子:是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報(bào)告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項(xiàng)數(shù)據(jù),現(xiàn)已成為國(guó)際上通用的期刊評(píng)價(jià)指標(biāo),不僅是一種測(cè)度期刊有用性和顯示度的指標(biāo),而且也是測(cè)度期刊的學(xué)術(shù)水平,乃至論文質(zhì)量的重要指標(biāo)。

Iet Science Measurement & Technology 雜志JCR分區(qū)

Web of Science 數(shù)據(jù)庫(kù)
按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學(xué)科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q3 259 / 352

26.6%

按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學(xué)科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 267 / 354

24.72%

Iet Science Measurement & Technology CiteScore 評(píng)價(jià)數(shù)據(jù)

  • CiteScore:4.3
  • SJR:0.438
  • SNIP:0.722

CiteScore 排名

學(xué)科類(lèi)別 分區(qū) 排名 百分位
大類(lèi):Engineering 小類(lèi):Electrical and Electronic Engineering Q2 304 / 797

61%

大類(lèi):Engineering 小類(lèi):Atomic and Molecular Physics, and Optics Q2 98 / 224

56%

CiteScore趨勢(shì)圖
年發(fā)文量趨勢(shì)圖

CiteScore:是由Elsevier2016年發(fā)布的一個(gè)評(píng)價(jià)學(xué)術(shù)期刊質(zhì)量的指標(biāo),該指標(biāo)是指期刊發(fā)表的單篇文章平均被引用次數(shù)。CiteScore和影響因子的作用是一樣的,都是可以體現(xiàn)期刊質(zhì)量的重要指標(biāo),給選刊的作者了解期刊水平提供幫助。

Iet Science Measurement & Technology 雜志發(fā)文統(tǒng)計(jì)

文章名稱(chēng)引用次數(shù)

  • Fault location on a series-compensated three-terminal transmission line using deep neural networks13
  • Modelling and regulation of two mechanical systems10
  • Intelligent prediction of transformer faults and severities based on dissolved gas analysis integrated with thermodynamics theory9
  • Feature extraction of power transformer vibration signals based on empirical wavelet transform and multiscale entropy8
  • Contingency constrained phasor measurement units placement with n-k redundancy criterion: a robust optimisation approach6
  • Determination and localisation of turn-to-turn fault in transformer winding using frequency response analysis6
  • Sequence-space-aided SVM classifier for disturbance detection in series compensated transmission line6
  • Multiple incipient fault classification approach for enhancing the accuracy of dissolved gas analysis (DGA)6
  • Rhythm-based identification of alcohol EEG signals5
  • Identification of electrical discharge forms, generated in insulating oil, using the optical spectrophotometry method5

國(guó)家/地區(qū)發(fā)文量

  • CHINA MAINLAND157
  • India103
  • Iran54
  • England24
  • Brazil19
  • Italy16
  • USA15
  • Algeria13
  • Australia13
  • Egypt12

機(jī)構(gòu)發(fā)文發(fā)文量

  • INDIAN INSTITUTE OF TECHNOLOGY SYSTEM (IIT SYSTEM)37
  • NATIONAL INSTITUTE OF TECHNOLOGY (NIT SYSTEM)27
  • NORTH CHINA ELECTRIC POWER UNIVERSITY21
  • XI'AN JIAOTONG UNIVERSITY18
  • STATE GRID CORPORATION OF CHINA15
  • AMIRKABIR UNIVERSITY OF TECHNOLOGY11
  • CHINA SOUTHERN POWER GRID11
  • WUHAN UNIVERSITY11
  • CHONGQING UNIVERSITY10
  • JADAVPUR UNIVERSITY10

Iet Science Measurement & Technology 雜志社通訊方式

《Iet Science Measurement & Technology》雜志通訊方式為:WILEY, 111 RIVER ST, HOBOKEN, USA, NJ, 07030-5774。詳細(xì)征稿細(xì)則請(qǐng)查閱雜志社征稿要求。本站可提供SCI投稿輔導(dǎo)服務(wù),SCI檢索,確保稿件信息安全保密,合乎學(xué)術(shù)規(guī)范,詳情請(qǐng)咨詢(xún)客服。

SCI期刊分類(lèi)導(dǎo)航

免責(zé)聲明

若用戶(hù)需要出版服務(wù),請(qǐng)聯(lián)系出版商:WILEY, 111 RIVER ST, HOBOKEN, USA, NJ, 07030-5774。

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