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Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems
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Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems

超大規(guī)模集成 (vlsi) 系統(tǒng)上的 Ieee 事務(wù)雜志

中科院分區(qū):3區(qū) JCR分區(qū):Q2 預(yù)計(jì)審稿周期:一般,3-6周

《Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems》是一本由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版商出版的工程技術(shù)國際刊物,國際簡稱為IEEE T VLSI SYST,中文名稱超大規(guī)模集成 (vlsi) 系統(tǒng)上的 Ieee 事務(wù)。該刊創(chuàng)刊于1993年,出版周期為Bimonthly。 《Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems》2024年影響因子為3.1,被收錄于國際知名權(quán)威數(shù)據(jù)庫SCI、SCIE。

ISSN:1063-8210
研究方向:工程技術(shù)-工程:電子與電氣
是否預(yù)警:是
E-ISSN:1557-9999
出版地區(qū):UNITED STATES
Gold OA文章占比:7.13%
語言:English
是否OA:未開放
OA被引用占比:
出版商:Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
出版周期:Bimonthly
影響因子:3.1
創(chuàng)刊時間:1993
年發(fā)文量:280
雜志簡介 中科院分區(qū) JCR分區(qū) CiteScore 發(fā)文統(tǒng)計(jì) 通訊方式 相關(guān)雜志 期刊導(dǎo)航

Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems 雜志簡介

《Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems》重點(diǎn)專注發(fā)布工程技術(shù)-工程:電子與電氣領(lǐng)域的新研究,旨在促進(jìn)和傳播該領(lǐng)域相關(guān)的新技術(shù)和新知識。鼓勵該領(lǐng)域研究者詳細(xì)地發(fā)表他們的高質(zhì)量實(shí)驗(yàn)研究和理論結(jié)果。該雜志創(chuàng)刊至今,在工程技術(shù)-工程:電子與電氣領(lǐng)域,有較高影響力,對來稿文章質(zhì)量要求較高,稿件投稿過審難度較大。歡迎廣大同領(lǐng)域研究者投稿該雜志。

Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems 雜志中科院分區(qū)

中科院SCI分區(qū)數(shù)據(jù)
中科院SCI期刊分區(qū)(2026年3月發(fā)布)
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 3區(qū) COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 計(jì)算機(jī):硬件 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 3區(qū) 3區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2025年3月升級版)
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 2區(qū) COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 計(jì)算機(jī):硬件 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 2區(qū) 3區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2023年12月升級版)
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 2區(qū) COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 計(jì)算機(jī):硬件 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 2區(qū) 3區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2022年12月升級版)
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 2區(qū) COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 計(jì)算機(jī):硬件 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 3區(qū) 3區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2021年12月升級版)
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 3區(qū) COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 計(jì)算機(jī):硬件 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 3區(qū) 3區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2021年12月基礎(chǔ)版)
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 4區(qū) COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 計(jì)算機(jī):硬件 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 4區(qū) 4區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2020年12月升級版)
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 2區(qū) COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 計(jì)算機(jī):硬件 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 3區(qū) 3區(qū)
中科院分區(qū)趨勢圖
影響因子趨勢圖

中科院JCR分區(qū):中科院JCR期刊分區(qū)(又稱分區(qū)表、分區(qū)數(shù)據(jù))是中國科學(xué)院文獻(xiàn)情報中心世界科學(xué)前沿分析中心的科學(xué)研究成果,是衡量學(xué)術(shù)期刊影響力的一個重要指標(biāo),一般而言,發(fā)表在1區(qū)和2區(qū)的SCI論文,通常被認(rèn)為是該學(xué)科領(lǐng)域的比較重要的成果。

影響因子:是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項(xiàng)數(shù)據(jù),現(xiàn)已成為國際上通用的期刊評價指標(biāo),不僅是一種測度期刊有用性和顯示度的指標(biāo),而且也是測度期刊的學(xué)術(shù)水平,乃至論文質(zhì)量的重要指標(biāo)。

Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems 雜志JCR分區(qū)

Web of Science 數(shù)據(jù)庫
按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學(xué)科:COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE SCIE Q2 21 / 60

65.8

學(xué)科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q2 152 / 368

58.8

學(xué)科:COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE SCIE Q2 30 / 60

50.83

學(xué)科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q2 149 / 368

59.65

按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學(xué)科:COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE SCIE Q2 23 / 59

61.9

學(xué)科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q2 151 / 352

57.2

學(xué)科:COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE SCIE Q2 26 / 59

56.78

學(xué)科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q2 149 / 354

58.05

Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems CiteScore 評價數(shù)據(jù)

  • CiteScore:6.1
  • SJR:1.041
  • SNIP:1.751

CiteScore 排名

學(xué)科類別 分區(qū) 排名 百分位
大類:Engineering 小類:Electrical and Electronic Engineering Q1 255 / 1030

75%

大類:Engineering 小類:Hardware and Architecture Q2 77 / 245

68%

大類:Engineering 小類:Software Q2 168 / 503

66%

CiteScore趨勢圖
年發(fā)文量趨勢圖

CiteScore:是由Elsevier2016年發(fā)布的一個評價學(xué)術(shù)期刊質(zhì)量的指標(biāo),該指標(biāo)是指期刊發(fā)表的單篇文章平均被引用次數(shù)。CiteScore和影響因子的作用是一樣的,都是可以體現(xiàn)期刊質(zhì)量的重要指標(biāo),給選刊的作者了解期刊水平提供幫助。

Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems 雜志發(fā)文統(tǒng)計(jì)

文章名稱引用次數(shù)

  • Computing in Memory With Spin-Transfer Torque Magnetic RAM22
  • Low-Power and Fast Full Adder by Exploring New XOR and XNOR Gates13
  • Experimental Investigation of 4-kb RRAM Arrays Programming Conditions Suitable for TCAM12
  • An Energy-Efficient Architecture for Binary Weight Convolutional Neural Networks11
  • A Global Bayesian Optimization Algorithm and Its Application to Integrated System Design10
  • TOSAM: An Energy-Efficient Truncation- and Rounding-Based Scalable Approximate Multiplier9
  • Approximate Hybrid High Radix Encoding for Energy-Efficient Inexact Multipliers9
  • Approximate Reverse Carry Propagate Adder for Energy-Efficient DSP Applications8
  • PR-TCAM: Efficient TCAM Emulation on Xilinx FPGAs Using Partial Reconfiguration7
  • Neuromorphic Vision Hybrid RRAM-CMOS Architecture7

國家/地區(qū)發(fā)文量

  • USA300
  • CHINA MAINLAND163
  • India72
  • Taiwan70
  • South Korea67
  • Canada46
  • GERMANY (FED REP GER)42
  • Singapore38
  • Iran36
  • Japan24

機(jī)構(gòu)發(fā)文發(fā)文量

  • INDIAN INSTITUTE OF TECHNOLOGY SYSTEM (IIT SYSTEM)50
  • UNIVERSITY OF CALIFORNIA SYSTEM33
  • NANYANG TECHNOLOGICAL UNIVERSITY & NATIONAL INSTITUTE OF EDUCATION (NIE) SINGAPORE27
  • PURDUE UNIVERSITY SYSTEM23
  • UNIVERSITY SYSTEM OF GEORGIA23
  • STATE UNIVERSITY SYSTEM OF FLORIDA19
  • CHINESE ACADEMY OF SCIENCES17
  • FUDAN UNIVERSITY17
  • HELMHOLTZ ASSOCIATION16
  • YONSEI UNIVERSITY16

Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems 雜志社通訊方式

《Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems》雜志通訊方式為:IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141。詳細(xì)征稿細(xì)則請查閱雜志社征稿要求。本站可提供SCI投稿輔導(dǎo)服務(wù),SCI檢索,確保稿件信息安全保密,合乎學(xué)術(shù)規(guī)范,詳情請咨詢客服。

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