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Journal Of Electronic Imaging
收藏雜志

Journal Of Electronic Imaging

電子影像雜志雜志

中科院分區(qū):4區(qū) JCR分區(qū):Q4 預(yù)計(jì)審稿周期:約4.0個(gè)月

《Journal Of Electronic Imaging》是一本由SPIE出版商出版的計(jì)算機(jī)科學(xué)國際刊物,國際簡稱為J ELECTRON IMAGING,中文名稱電子影像雜志。該刊創(chuàng)刊于1992年,出版周期為Quarterly。 《Journal Of Electronic Imaging》2024年影響因子為1,被收錄于國際知名權(quán)威數(shù)據(jù)庫SCI、SCIE。

ISSN:1017-9909
研究方向:工程技術(shù)-成像科學(xué)與照相技術(shù)
是否預(yù)警:是
E-ISSN:1560-229X
出版地區(qū):UNITED STATES
Gold OA文章占比:3.76%
語言:English
是否OA:未開放
OA被引用占比:
出版商:SPIE
出版周期:Quarterly
影響因子:1
創(chuàng)刊時(shí)間:1992
年發(fā)文量:356
雜志簡介 中科院分區(qū) JCR分區(qū) CiteScore 發(fā)文統(tǒng)計(jì) 通訊方式 相關(guān)雜志 期刊導(dǎo)航

Journal Of Electronic Imaging 雜志簡介

《Journal Of Electronic Imaging》重點(diǎn)專注發(fā)布工程技術(shù)-成像科學(xué)與照相技術(shù)領(lǐng)域的新研究,旨在促進(jìn)和傳播該領(lǐng)域相關(guān)的新技術(shù)和新知識(shí)。鼓勵(lì)該領(lǐng)域研究者詳細(xì)地發(fā)表他們的高質(zhì)量實(shí)驗(yàn)研究和理論結(jié)果。該雜志創(chuàng)刊至今,在工程技術(shù)-成像科學(xué)與照相技術(shù)領(lǐng)域,有較高影響力,對(duì)來稿文章質(zhì)量要求較高,稿件投稿過審難度較大。歡迎廣大同領(lǐng)域研究者投稿該雜志。

Journal Of Electronic Imaging 雜志中科院分區(qū)

中科院SCI分區(qū)數(shù)據(jù)
中科院SCI期刊分區(qū)(2026年3月發(fā)布)
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
計(jì)算機(jī)科學(xué) 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 OPTICS 光學(xué) IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學(xué)與照相技術(shù) 4區(qū) 4區(qū) 4區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2025年3月升級(jí)版)
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
計(jì)算機(jī)科學(xué) 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學(xué)與照相技術(shù) OPTICS 光學(xué) 4區(qū) 4區(qū) 4區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2023年12月升級(jí)版)
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
計(jì)算機(jī)科學(xué) 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學(xué)與照相技術(shù) OPTICS 光學(xué) 4區(qū) 4區(qū) 4區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2022年12月升級(jí)版)
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
計(jì)算機(jī)科學(xué) 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學(xué)與照相技術(shù) OPTICS 光學(xué) 4區(qū) 4區(qū) 4區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2021年12月升級(jí)版)
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
計(jì)算機(jī)科學(xué) 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學(xué)與照相技術(shù) OPTICS 光學(xué) 4區(qū) 4區(qū) 4區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2021年12月基礎(chǔ)版)
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學(xué)與照相技術(shù) OPTICS 光學(xué) 4區(qū) 4區(qū) 4區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2020年12月升級(jí)版)
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
計(jì)算機(jī)科學(xué) 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學(xué)與照相技術(shù) OPTICS 光學(xué) 4區(qū) 4區(qū) 4區(qū)
中科院分區(qū)趨勢(shì)圖
影響因子趨勢(shì)圖

中科院JCR分區(qū):中科院JCR期刊分區(qū)(又稱分區(qū)表、分區(qū)數(shù)據(jù))是中國科學(xué)院文獻(xiàn)情報(bào)中心世界科學(xué)前沿分析中心的科學(xué)研究成果,是衡量學(xué)術(shù)期刊影響力的一個(gè)重要指標(biāo),一般而言,發(fā)表在1區(qū)和2區(qū)的SCI論文,通常被認(rèn)為是該學(xué)科領(lǐng)域的比較重要的成果。

影響因子:是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報(bào)告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項(xiàng)數(shù)據(jù),現(xiàn)已成為國際上通用的期刊評(píng)價(jià)指標(biāo),不僅是一種測(cè)度期刊有用性和顯示度的指標(biāo),而且也是測(cè)度期刊的學(xué)術(shù)水平,乃至論文質(zhì)量的重要指標(biāo)。

Journal Of Electronic Imaging 雜志JCR分區(qū)

Web of Science 數(shù)據(jù)庫
按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學(xué)科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 304 / 368

17.5

學(xué)科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY SCIE Q4 33 / 36

9.7

學(xué)科:OPTICS SCIE Q4 103 / 125

18

學(xué)科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 299 / 368

18.89

學(xué)科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY SCIE Q4 34 / 36

6.94

學(xué)科:OPTICS SCIE Q4 105 / 125

16.4

按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學(xué)科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 285 / 352

19.2

學(xué)科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY SCIE Q4 31 / 36

15.3

學(xué)科:OPTICS SCIE Q4 99 / 119

17.2

學(xué)科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 289 / 354

18.5

學(xué)科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY SCIE Q4 31 / 36

15.28

學(xué)科:OPTICS SCIE Q4 104 / 120

13.75

Journal Of Electronic Imaging CiteScore 評(píng)價(jià)數(shù)據(jù)

  • CiteScore:2.4
  • SJR:0.249
  • SNIP:0.315

CiteScore 排名

學(xué)科類別 分區(qū) 排名 百分位
大類:Engineering 小類:Electrical and Electronic Engineering Q3 554 / 1030

46%

大類:Engineering 小類:Computer Science Applications Q3 615 / 1022

39%

大類:Engineering 小類:Atomic and Molecular Physics, and Optics Q3 156 / 243

36%

CiteScore趨勢(shì)圖
年發(fā)文量趨勢(shì)圖

CiteScore:是由Elsevier2016年發(fā)布的一個(gè)評(píng)價(jià)學(xué)術(shù)期刊質(zhì)量的指標(biāo),該指標(biāo)是指期刊發(fā)表的單篇文章平均被引用次數(shù)。CiteScore和影響因子的作用是一樣的,都是可以體現(xiàn)期刊質(zhì)量的重要指標(biāo),給選刊的作者了解期刊水平提供幫助。

Journal Of Electronic Imaging 雜志發(fā)文統(tǒng)計(jì)

文章名稱引用次數(shù)

  • SWCD: a sliding window and self-regulated learning-based background updating method for change detection in videos10
  • Infrared and visible image fusion based on convolutional neural network model and saliency detection via hybrid l(0)-l(1) layer decomposition8
  • Improved opponent color local binary patterns: an effective local image descriptor for color texture classification6
  • Deep learning for automated forgery detection in hyperspectral document images6
  • Lossless data hiding in JPEG images with segment coding4
  • Robust visual tracking based on deep convolutional neural networks and kernelized correlation filters4
  • Extreme learning machine for handwritten Indic script identification in multiscript documents4
  • JPEG-1 standard 25 years: past, present, and future reasons for a success4
  • Deep learning feature extraction for multispectral palmprint identification4
  • Abnormal events detection using deep neural networks: application to extreme sea surface temperature detection in the Red Sea3

Journal Of Electronic Imaging 雜志社通訊方式

《Journal Of Electronic Imaging》雜志通訊方式為:I S & T - SOC IMAGING SCIENCE TECHNOLOGY, 7003 KILWORTH LANE, SPRINGFIELD, USA, VA, 22151。詳細(xì)征稿細(xì)則請(qǐng)查閱雜志社征稿要求。本站可提供SCI投稿輔導(dǎo)服務(wù),SCI檢索,確保稿件信息安全保密,合乎學(xué)術(shù)規(guī)范,詳情請(qǐng)咨詢客服。

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