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雜志簡(jiǎn)介中科院分區(qū) JCR分區(qū) CiteScore 發(fā)文統(tǒng)計(jì) 通訊方式相關(guān)雜志期刊導(dǎo)航

Mapan-journal Of Metrology Society Of India 雜志簡(jiǎn)介

《Mapan-journal Of Metrology Society Of India》重點(diǎn)專(zhuān)注發(fā)布工程技術(shù)-物理：應(yīng)用領(lǐng)域的新研究，旨在促進(jìn)和傳播該領(lǐng)域相關(guān)的新技術(shù)和新知識(shí)。鼓勵(lì)該領(lǐng)域研究者詳細(xì)地發(fā)表他們的高質(zhì)量實(shí)驗(yàn)研究和理論結(jié)果。該雜志創(chuàng)刊至今，在工程技術(shù)-物理：應(yīng)用領(lǐng)域，有較高影響力，對(duì)來(lái)稿文章質(zhì)量要求較高，稿件投稿過(guò)審難度較大。歡迎廣大同領(lǐng)域研究者投稿該雜志。

Mapan-journal Of Metrology Society Of India 雜志中科院分區(qū)

中科院SCI分區(qū)數(shù)據(jù)

中科院SCI期刊分區(qū)（2023年12月升級(jí)版）

大類(lèi)學(xué)科	分區(qū)	小類(lèi)學(xué)科	分區(qū)	Top期刊	綜述期刊
工程技術(shù)	4區(qū)	INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用	4區(qū) 4區(qū)	否	否

中科院SCI期刊分區(qū)（2022年12月升級(jí)版）

大類(lèi)學(xué)科	分區(qū)	小類(lèi)學(xué)科	分區(qū)	Top期刊	綜述期刊
工程技術(shù)	4區(qū)	INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用	4區(qū) 4區(qū)	否	否

中科院SCI期刊分區(qū)（2021年12月舊的升級(jí)版）

大類(lèi)學(xué)科	分區(qū)	小類(lèi)學(xué)科	分區(qū)	Top期刊	綜述期刊
工程技術(shù)	4區(qū)	INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用	4區(qū) 4區(qū)	否	否

中科院SCI期刊分區(qū)（2021年12月基礎(chǔ)版）

大類(lèi)學(xué)科	分區(qū)	小類(lèi)學(xué)科	分區(qū)	Top期刊	綜述期刊
工程技術(shù)	4區(qū)	INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用	4區(qū) 4區(qū)	否	否

中科院SCI期刊分區(qū)（2021年12月升級(jí)版）

大類(lèi)學(xué)科	分區(qū)	小類(lèi)學(xué)科	分區(qū)	Top期刊	綜述期刊
工程技術(shù)	4區(qū)	INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用	4區(qū) 4區(qū)	否	否

中科院SCI期刊分區(qū)（2020年12月舊的升級(jí)版）

大類(lèi)學(xué)科	分區(qū)	小類(lèi)學(xué)科	分區(qū)	Top期刊	綜述期刊
工程技術(shù)	4區(qū)	INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用	4區(qū) 4區(qū)	否	否

中科院分區(qū)趨勢(shì)圖

影響因子趨勢(shì)圖

中科院JCR分區(qū)：中科院JCR期刊分區(qū)（又稱(chēng)分區(qū)表、分區(qū)數(shù)據(jù)）是中國(guó)科學(xué)院文獻(xiàn)情報(bào)中心世界科學(xué)前沿分析中心的科學(xué)研究成果，是衡量學(xué)術(shù)期刊影響力的一個(gè)重要指標(biāo)，一般而言，發(fā)表在1區(qū)和2區(qū)的SCI論文，通常被認(rèn)為是該學(xué)科領(lǐng)域的比較重要的成果。

影響因子：是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報(bào)告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項(xiàng)數(shù)據(jù)，現(xiàn)已成為國(guó)際上通用的期刊評(píng)價(jià)指標(biāo)，不僅是一種測(cè)度期刊有用性和顯示度的指標(biāo)，而且也是測(cè)度期刊的學(xué)術(shù)水平，乃至論文質(zhì)量的重要指標(biāo)。

Mapan-journal Of Metrology Society Of India 雜志JCR分區(qū)

Web of Science 數(shù)據(jù)庫(kù)

按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū)	收錄子集	分區(qū)	排名	百分位
學(xué)科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION	SCIE	Q4	62 / 76	19.1%
學(xué)科：PHYSICS, APPLIED	SCIE	Q4	157 / 179	12.6%

按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū)	收錄子集	分區(qū)	排名	百分位
學(xué)科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION	SCIE	Q4	68 / 76	11.18%
學(xué)科：PHYSICS, APPLIED	SCIE	Q4	152 / 179	15.36%

Mapan-journal Of Metrology Society Of India CiteScore 評(píng)價(jià)數(shù)據(jù)

CiteScore：2.3
SJR：0.263
SNIP：0.61

CiteScore 排名

學(xué)科類(lèi)別	分區(qū)	排名	百分位
大類(lèi)：Physics and Astronomy 小類(lèi)：Physics and Astronomy (miscellaneous)	Q2	40 / 81	51%

CiteScore趨勢(shì)圖

年發(fā)文量趨勢(shì)圖

CiteScore：是由Elsevier2016年發(fā)布的一個(gè)評(píng)價(jià)學(xué)術(shù)期刊質(zhì)量的指標(biāo)，該指標(biāo)是指期刊發(fā)表的單篇文章平均被引用次數(shù)。CiteScore和影響因子的作用是一樣的，都是可以體現(xiàn)期刊質(zhì)量的重要指標(biāo)，給選刊的作者了解期刊水平提供幫助。

Mapan-journal Of Metrology Society Of India 雜志發(fā)文統(tǒng)計(jì)

文章名稱(chēng)引用次數(shù)
Epidemiological Study on Respiratory Health of School Children of Rural Sites of Malwa Region (India) During Post-harvest Stubble Burning Events5
FEA-Based Design Studies for Development of Diaphragm Force Transducers4
Signal Averaging for Noise Reduction in Mobile Robot 3D Measurement System3
Comparative Study on Absorbed Dose Distribution of Potato and Onion in X-ray and Electron Beam System by MCNPX2.6 Code2
Optimization of a Low-Voltage Load Switch for a Smart Meter Based on a Double Response Surface Model2
Evaluation of Uncertainty in the Effective Area and Distortion Coefficients of Air Piston Gauge Using Monte Carlo Method2
RoHS Regulation: Challenges in the Measurement of Substances of Concern in Industrial Products by Different Analytical Techniques2
Design of a Stable DC Voltage Source and Computer Controlling of It Using an Indigenously Developed All-Digital Addressing-Cum-Control Hardware2
Design and Development of Cost-Effective System for the Measurement of Dielectric Constant of Ceramic Materials Using PIC Microcontroller2
Analysis of Random Factors Affecting Measurement Accuracy of Portable Coordinate Measuring Arm2
國(guó)家/地區(qū)發(fā)文量
India98
CHINA MAINLAND22
Egypt14
Indonesia6
Turkey6
Iran5
Italy5
South Korea5
Lithuania4
Malaysia4
機(jī)構(gòu)發(fā)文發(fā)文量
COUNCIL OF SCIENTIFIC & INDUSTRIAL RESEARCH (CSIR) - INDIA57
CSIR - NATIONAL PHYSICAL LABORATORY (NPL)53
ACADEMY OF SCIENTIFIC & INNOVATIVE RESEARCH (ACSIR)26
NATIONAL INSTITUTE FOR STANDARDS (NIS)14
NATIONAL INSTITUTE OF TECHNOLOGY (NIT SYSTEM)14
INDIAN INSTITUTE OF TECHNOLOGY SYSTEM (IIT SYSTEM)12
THAPAR INSTITUTE OF ENGINEERING & TECHNOLOGY7
ISTITUTO NAZIONALE DI RICERCA METROLOGICA (INRIM)5
KAUNAS UNIVERSITY OF TECHNOLOGY4
KOREA RESEARCH INSTITUTE OF STANDARDS & SCIENCE (KRISS)4

Mapan-journal Of Metrology Society Of India 雜志社通訊方式

《Mapan-journal Of Metrology Society Of India》雜志通訊方式為：METROLOGY SOC INDIA, NPL PREMISES, DR K S KRISHNAN MARG, NEW DELHI, INDIA, 110 012。詳細(xì)征稿細(xì)則請(qǐng)查閱雜志社征稿要求。本站可提供SCI投稿輔導(dǎo)服務(wù)，SCI檢索，確保稿件信息安全保密，合乎學(xué)術(shù)規(guī)范，詳情請(qǐng)咨詢(xún)客服。