《Ieee Electron Device Letters》雜志的影響因子為4.5。

以下是如何查看影響因子的幾種方法：

一、通過專業(yè)數(shù)據(jù)庫查詢

1. 通過Web of Science數(shù)據(jù)庫查詢：Web of Science是一個(gè)權(quán)威的學(xué)術(shù)數(shù)據(jù)庫，提供期刊影響因子的官方數(shù)據(jù)。

2.中國知網(wǎng)（CNKI）：在CNKI中，用戶可以通過期刊導(dǎo)航功能搜索目標(biāo)期刊，并在期刊詳情頁面查看其影響因子。

3.使用JCR：JCR是專門提供期刊引證報(bào)告的工具，隸屬于Web of Science。

二、查閱學(xué)術(shù)期刊官方網(wǎng)站

許多學(xué)術(shù)期刊會(huì)在其官方網(wǎng)站上公布最新的影響因子數(shù)據(jù)。

三、參考學(xué)術(shù)權(quán)威指南和排名

影響因子是一個(gè)動(dòng)態(tài)變化的指標(biāo)，會(huì)隨著時(shí)間的推移而發(fā)生變化。因此，在查看影響因子時(shí)，需要關(guān)注其發(fā)布的時(shí)間點(diǎn)。

《Ieee Electron Device Letters》雜志創(chuàng)刊于1980年，由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版商出版，出版周期為Monthly，國際簡稱為IEEE ELECTR DEVICE L，中文名稱IEEE 電子器件字母。該雜志旨在及時(shí)、準(zhǔn)確、全面地報(bào)道國內(nèi)外工程技術(shù)-工程：電子與電氣領(lǐng)域取得的最新研究成果、工作進(jìn)展及學(xué)術(shù)動(dòng)態(tài)、技術(shù)革新等，促進(jìn)學(xué)術(shù)交流，鼓勵(lì)學(xué)術(shù)創(chuàng)新。

《Ieee Electron Device Letters》雜志分區(qū)情況

中科院分區(qū)：在中科院最新升級版分區(qū)表中，大類學(xué)科工程技術(shù)位于2區(qū)，小類學(xué)科ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：電子與電氣位于3區(qū)。

JCR分區(qū)：根據(jù)最新JCR分區(qū)， 按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū)中學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，位于Q2區(qū)，排名99 / 368，百分位73.2。ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，位于Q1區(qū)，排名80 / 368，百分位78.4。 按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū)中學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，位于Q2區(qū)，排名94 / 352，百分位73.4。ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，位于Q1區(qū)，排名77 / 354，百分位78.39。

投稿咨詢

《Ieee Electron Device Letters》雜志評價(jià)數(shù)據(jù)

影響因子：4.5

Gold OA文章占比：4.62%

CiteScore：7.9

SJR：1.087

SNIP：1.44

年發(fā)文量：602

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