根據(jù)最新信息《Displays》期刊在JCR分區(qū)中的排名如下：
按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū)在學(xué)科為COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE，收錄子集：，位于Q2區(qū)，排名19 / 60，百分位69.2ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，收錄子集：，位于Q2區(qū)，排名138 / 368，百分位62.6INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION，收錄子集：，位于Q2區(qū)，排名26 / 79，百分位67.7OPTICS，收錄子集：，位于Q2區(qū)，排名39 / 125，百分位69.2COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE，收錄子集：，位于Q2區(qū)，排名20 / 60，百分位67.5ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，收錄子集：，位于Q2區(qū)，排名119 / 368，百分位67.8INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION，收錄子集：，位于Q1區(qū)，排名18 / 79，百分位77.85OPTICS，收錄子集：，位于Q2區(qū)，排名41 / 125，百分位67.6按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū)在學(xué)科為COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE，收錄子集：，位于Q1區(qū)，排名14 / 59，百分位77.1ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，收錄子集：，位于Q2區(qū)，排名112 / 352，百分位68.3INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION，收錄子集：，位于Q1區(qū)，排名17 / 76，百分位78.3OPTICS，收錄子集：，位于Q2區(qū)，排名30 / 119，百分位75.2COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE，收錄子集：，位于Q2區(qū)，排名19 / 59，百分位68.64ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，收錄子集：，位于Q2區(qū)，排名111 / 354，百分位68.79INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION，收錄子集：，位于Q1區(qū)，排名17 / 76，百分位78.29OPTICS，收錄子集：，位于Q2區(qū)，排名35 / 120，百分位71.25。
投稿咨詢| 按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE | SCIE | Q2 | 19 / 60 |
69.2 |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q2 | 138 / 368 |
62.6 |
| 學(xué)科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q2 | 26 / 79 |
67.7 |
| 學(xué)科：OPTICS | SCIE | Q2 | 39 / 125 |
69.2 |
| 學(xué)科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE | SCIE | Q2 | 20 / 60 |
67.5 |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q2 | 119 / 368 |
67.8 |
| 學(xué)科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q1 | 18 / 79 |
77.85 |
| 學(xué)科：OPTICS | SCIE | Q2 | 41 / 125 |
67.6 |
| 按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE | SCIE | Q1 | 14 / 59 |
77.1 |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q2 | 112 / 352 |
68.3 |
| 學(xué)科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q1 | 17 / 76 |
78.3 |
| 學(xué)科：OPTICS | SCIE | Q2 | 30 / 119 |
75.2 |
| 學(xué)科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE | SCIE | Q2 | 19 / 59 |
68.64 |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q2 | 111 / 354 |
68.79 |
| 學(xué)科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q1 | 17 / 76 |
78.29 |
| 學(xué)科：OPTICS | SCIE | Q2 | 35 / 120 |
71.25 |
這表明該刊在計(jì)算機(jī)：硬件領(lǐng)域具有較高的學(xué)術(shù)影響力和認(rèn)可度。此外，該刊創(chuàng)刊時(shí)間：1979年，影響因子：3.4，出版周期：Bimonthly、出版商：Elsevier以及收錄情況等信息也為其學(xué)術(shù)影響力提供了有力支持。
影響因子：是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報(bào)告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項(xiàng)數(shù)據(jù)，現(xiàn)已成為國(guó)際上通用的期刊評(píng)價(jià)指標(biāo)，不僅是一種測(cè)度期刊有用性和顯示度的指標(biāo)，而且也是測(cè)度期刊的學(xué)術(shù)水平，乃至論文質(zhì)量的重要指標(biāo)。
聲明：以上信息摘自網(wǎng)絡(luò)公開(kāi)資料，如有不準(zhǔn)確，請(qǐng)聯(lián)系我們。
